金相显微镜
BA210Met是电子、金属材料、矿物、地质、精密工程等检查、分析及研究的必备仪器，适用于教学、科研、工业等领域。 采用同轴垂直照明系统，很好的消除了杂散光，从而大大提高成像的对比度（衬度）和清晰度。
倒置金相三目显微镜（带偏光）
适用于金相、岩相、矿相、晶体组织结构分析和鉴别。也可用于观察材料表面的某些特性。如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等. 总放大倍数：40X-1000X
简易型倒置金相显微镜
m232简易型倒置金相显微镜▲ 用以鉴别和分析各种金属和合金的组织结构，对热处理后的材料作一般金相组织的研究工作。▲ 成像清晰，视野宽广，整体设计符合人机工程学，适合长期使用和操作。
硅芯片检查显微镜LW300MT
LW300MT硅芯片检查显微镜专为微电子行业量身定做，适用于硅、砷化镓、磷化铟等基片6″8″盘的生产工艺检查；可以方便的快移和精确的位移检查；也可以适用其它需较大面积标本的工艺检查。
BX51M显微镜
BX51 奥林巴斯BX51M显微镜产品特色：UIS2光学系统：荧光数码成像领域内革命性的飞跃，干涉镀膜荧光激发块的性能改进，荧光激发块的干涉膜采用了新型镀膜技术，激发带宽(BP)以及荧光带宽(BA)比传统谱线缩短了6nm，使信噪比更进一步得到提高。奥林巴斯的荧光激发块采用硬
